Unsere Kompetenz im Bereich Mikroskopie

Rasterelektronenmikroskop (REM)

30kV-Rasterelektronenmikroskop (REM) mit Link-Mikroanalyse (EDX).
Auflösung von bis zu 4 nm ist hierbei erreichbar!
Sputteranlage für homogene Schichten sogar auf extrem stark strukturierten Oberflächen.
Dabei extrem niedrige Temperaturbelastung der Targets.

Hochauflösende optische Stereomikroskope

Digitalmikroskope VHX-100 und VW9000 von Keyence zur 2D- und 3D-Vermessung.
Darstellung kleinster Objekte; auch ultraschneller Vorgänge.

Hochgeschwindigkeitskameras

Hochgeschwindigkeitskameras zur Analyse ultraschneller Vorgänge unter dem Mikroskop.
Auflösung bis zu 1 Mikrosekunde und Lichtverstärkung bis zu 40000x.